探針,英文Test probe,是電(diàn)測試的接觸媒介,是高(gāo)端精密型電(diàn)子元器(qì)件。
PCB測試探針,主要用于各種尺寸的PCB PAD的測試,PCB測試探針的選型主要是根據線路闆(PCB)闆的中心距和(hé)被測點的形狀而定的,PCB闆上(shàng)所要測試的點與點之間(jiān)越近,選用探針的外徑也就越細。一根探針主要是由外殼、中心針、彈簧、內(nèi)導體(tǐ)等部分所組成,探針如何設計(jì)才能滿足客戶所需的測試頻率、空(kōng)間(jiān),使用壽命等條件,上(shàng)海裏庫電(diàn)子科技(jì)不斷推陳出新,精益求精,不斷設計(jì)、研發和(hé)制(zhì)造出符合客戶需求的多(duō)種PCB PAD測試探針。
如下
圖一是帶有(yǒu)方向的PCB測試探針,尾端有(yǒu)可(kě)接線纜、SMA、SSMA三種不同樣式可(kě)供選擇
圖二是根據客戶需求定制(zhì)的PCB測試探針
圖三是五針測試探針/SMA-KHD PCB PAD測試探針
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圖一:
圖二:
圖三:
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